Microscopio elettronico a scansione (SEM)

Microscopio elettronico a scansione (SEM) e microanalisi

 

CECERBENCH – Laboratorio Sviluppo Piastrelle con Superficie Funzionalizzata

 

 

 

Lo studio della microstruttura dei materiali è di fondamentale importanza per mettere a punto e caratterizzare quelli di interesse per il progetto. Il laboratorio si è quindi dotato di un microscopio elettronico a scansione (SEM), collegato ad un sistema di microanalisi. Svariate sono le informazioni ottenibili da un esame eseguito con tale strumento:

²      informazioni sul grado di compattazione (per prodotti non sinterizzati) e di sinterizzazione, con valutazione del livello e tipologia di porosità (porosità chiusa, aperta, morfologia dei pori, loro interconnessione,…);

²      informazioni morfologiche e composizionali su particelle di polveri;

²      informazioni morfologiche e composizionali delle diverse fasi, cristalline e non, presenti all'interno di un materiale;

²      informazioni morfologiche superficiali.


Caratteristiche tecniche dello strumento

E' stato scelto il microscopio elettronico a scansione (SEM), in modalità pressione variabile estesa, modello LEO "EVO 40XVP-M", della ditta ZEISS (D), collegato ad un sistema di microanalisi, modello INCA Energy 250, della ditta Oxford Analytical Instruments Ltd. (UK). Le caratteristiche più importanti di questo strumento sono costituite da:

²      modalità di operazioni in alto vuoto (HV) ed in pressione variabile estesa (XVP) nel range da 1 a 750 Pa, per analizzare campioni non conduttivi;

²      rivelatore di elettroni secondari in alto vuoto (ET-SE), e rivelatore di elettroni retrodiffusi (4QBSE);

²      risoluzione di 3 nm ed intervallo di ingrandimenti da 7x a 1.000.000x;

²      software per analisi elementare qualitative e quantitative, con standard;

²      software per la mappatura chimica degli elementi e per i profili di concentrazione.

 

Servizi per l’industria

²      studio della microstruttura di un materiale sia massivo che in forma di riporto sottile;

²      identificazione di microdifettosità morfologiche e composizionali di un prodotto;

²      analisi della superficie di componenti;

²      analisi frattografica di componenti.

 

CONTATTO:

Dott.ssa Antonella Tucci - e-mail: This e-mail address is being protected from spam bots, you need JavaScript enabled to view it