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Microscopio elettronico a scansione (SEM) |
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Microscopio Elettronico a Scansione (SEM)
Lo studio della microstruttura dei materiali è di fondamentale importanza per acquisire informazioni su:
- grado di compattazione (per prodotti non sinterizzati) e di sinterizzazione, con valutazione del livello e tipologia di porosità (porosità chiusa, aperta, morfologia dei pori, loro interconnessione...)
- morfologia e composizione di particelle di polveri
- morfologia e composizione delle diverse fasi - cristalline e non - presenti all'interno di un materiale
- morfologia superficiale.
Caratteristiche tecniche dello strumento
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) in dotazione al Centro Ceramico è il modello LEO "EVO 40XVP-M", Zeiss (D), collegato ad un sistema di microanalisi mod. INCA Energy 250 - Oxford Analytical Instruments Ltd (UK).
Le caratteristiche più rilevanti dello strumento sono:
- modalità di operazioni in alto vuoto (HV) ed in pressione variabile estesa (XVP) nel range da 1 a 750 Pa, per analizzare campioni non conduttivi
- rivelatore di elettroni secondari in alto vuoto (ET-SE), e rivelatore di elettroni retrodiffusi (4QBSE)
- risoluzione di 3 nm ed intervallo di ingrandimenti da 7x a 1.000.000x
- software per analisi elementare qualitative e quantitative, con standard
- software per la mappatura chimica degli elementi e per i profili di concentrazione.
Servizi per l'industria
- studio della microstruttura di un materiale sia massivo, sia in forma di riporto sottile
- identificazione di microdifettosità morfologiche e composizionali di un prodotto
- analisi della superficie di componenti
- analisi frattografica di componenti.
Contatti:
Dott.ssa Elisa Rambaldi - e-mail
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Dott.ssa Francesca Prete - e-mail
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